詳細摘要： 專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，...

詳細摘要： 以創(chuàng)新的操作性，滿足廣泛領(lǐng)域的需求。新一代TEM"RuliTEM"誕生。"RuliTEM"120 kV透射電子顯微鏡系列，包含配備高襯度透鏡，實現(xiàn)大視野、高對比...

詳細摘要： 200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能。通過單極片實現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。透射電...